多項選擇題
看圖判斷,下列哪種描述正確?()
A.圖(b)是注入的低能離子
B.圖(b)是注入的高能離子
C.圖(a)是注入的低能離子
D.圖(a)是注入的高能離子
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1.多項選擇題擴散系數(shù)是表征擴散快慢的參數(shù),它相當于單位濃度梯度時的擴散通量,所以它()
A.單位為m2/s
B.有單位
C.無單位
D.單位為m/s
2.多項選擇題?P在兩歩擴散工藝中,第二步再分布的同時又進行了熱氧化(kp=10),這會給再分布擴散帶來哪些影響?()
A.P擴散速度加快
B.擴入Si的P總量下降
C.在SiO2/Si界面Si一側(cè)的P耗竭(是指低于SiO2一側(cè))
D.在SiO2/Si界面Si一側(cè)的P堆積(是指高于SiO2一側(cè))
3.多項選擇題?硅恒定源擴散,在擴散溫度硅的固溶度為Ns,在進行了40min擴散后,測得結(jié)深是1.5μm,若要獲得2.0μm的結(jié)深,在原工藝基礎(chǔ)上應(yīng)再擴散多少分鐘?硅表面雜質(zhì)濃度是多少?()
A.雜質(zhì)表面濃度< Ns
B.雜質(zhì)表面濃度=Ns
C.應(yīng)再擴散71min
D.表面雜質(zhì)濃度等于該工藝溫度時硅的固溶度
4.單項選擇題多晶硅薄膜通常采取哪種方法制備?()
A.磁控濺射
B.VPE
C.LPCVD
D.APCVD
5.單項選擇題?基于LSS理論,離子注入受到靶原子核與電子的阻止,()。
A.核阻止和電子阻止是獨立的
B.核阻止本領(lǐng)>電子阻止本領(lǐng)
C.核阻止本領(lǐng)< 電子阻止本領(lǐng)
D.核阻止和電子阻止與入射離子能量無關(guān)
最新試題
摻雜后,退火的目的是()。
題型:多項選擇題
如下哪個選項不是半導(dǎo)體器件制備過程中的主要污染物?()
題型:單項選擇題
下面哪道工序主要是針對晶圓切割之后在顯微鏡下進行晶圓r的外觀檢查,是否有出現(xiàn)廢品?()
題型:單項選擇題
進行光刻工藝前的清洗步驟是()。
題型:單項選擇題
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題型:單項選擇題
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題型:多項選擇題
光刻工藝的特點包括()。
題型:多項選擇題
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題型:判斷題
CMP的設(shè)備構(gòu)成包括()。
題型:多項選擇題