A.P擴(kuò)散速度加快B.擴(kuò)入Si的P總量下降C.在SiO2/Si界面Si一側(cè)的P耗竭(是指低于SiO2一側(cè))D.在SiO2/Si界面Si一側(cè)的P堆積(是指高于SiO2一側(cè))
A.雜質(zhì)表面濃度< NsB.雜質(zhì)表面濃度=NsC.應(yīng)再擴(kuò)散71minD.表面雜質(zhì)濃度等于該工藝溫度時(shí)硅的固溶度
A.磁控濺射B.VPEC.LPCVDD.APCVD