A.反應(yīng)運(yùn)動(dòng)
B.擴(kuò)散運(yùn)動(dòng)
C.脫吸運(yùn)動(dòng)
D.漂移運(yùn)動(dòng)
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A.hg≥ks,淀積速率為擴(kuò)散控制
B.hg≤ks,淀積速率為反應(yīng)控制
C.hg≥ks,淀積速率為反應(yīng)控制
D.hg≤ks,淀積速率為擴(kuò)散控制
A.漂移運(yùn)動(dòng)
B.反應(yīng)運(yùn)動(dòng)
C.擴(kuò)散運(yùn)動(dòng)
D.加接運(yùn)動(dòng)
A.在表面進(jìn)行化學(xué)反應(yīng),在表面淀積成薄膜
B.副產(chǎn)物脫離吸附
C.脫吸副產(chǎn)物逸出反應(yīng)室
D.反應(yīng)劑傳輸至襯底表面,反應(yīng)劑吸附在表面
A.鎢塞
B.鈍化層
C.層間介質(zhì)BPSG
A.SiO2
B.單晶硅
C.BSG
D.Si3N4
最新試題
下面不屬于QFP封裝改進(jìn)品質(zhì)的是()。
制造和封裝工藝過(guò)程中的材料性能是決定材料應(yīng)用的關(guān)鍵,制造性能主要包括()。
因?yàn)镼FP封裝的可靠性高,且其封裝外形尺寸較小,寄生參數(shù)減小,故多用于高頻電路、音頻電路、微處理器、電源電路。
凸點(diǎn)的制作技術(shù)有()。
在近十年由于材料和設(shè)備的發(fā)展,同時(shí)伴隨電子產(chǎn)品功能的日益增強(qiáng),()再次來(lái)到大眾視線
WLCSP技術(shù)最根本的優(yōu)點(diǎn)是IC到PCB之間的電感很大。
通常芯片上的引出端焊盤(pán)是排列在管芯片附近的方形()。
為了獲得好的性能,塑封料的電學(xué)性必須得到控制。
下面關(guān)于BGA的特點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
以下不屬于打碼目的的是()。