多項(xiàng)選擇題?以下關(guān)于CVD的描述正確的有()。
A.hg≥ks,淀積速率為擴(kuò)散控制
B.hg≤ks,淀積速率為反應(yīng)控制
C.hg≥ks,淀積速率為反應(yīng)控制
D.hg≤ks,淀積速率為擴(kuò)散控制
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
1.多項(xiàng)選擇題CVD淀積SiO2薄膜過(guò)程中主要涉及的運(yùn)動(dòng)有哪些?()
A.漂移運(yùn)動(dòng)
B.反應(yīng)運(yùn)動(dòng)
C.擴(kuò)散運(yùn)動(dòng)
D.加接運(yùn)動(dòng)
2.多項(xiàng)選擇題CVD基本過(guò)程包括()。
A.在表面進(jìn)行化學(xué)反應(yīng),在表面淀積成薄膜
B.副產(chǎn)物脫離吸附
C.脫吸副產(chǎn)物逸出反應(yīng)室
D.反應(yīng)劑傳輸至襯底表面,反應(yīng)劑吸附在表面
3.多項(xiàng)選擇題?CVD薄膜有哪些應(yīng)用?()
A.鎢塞
B.鈍化層
C.層間介質(zhì)BPSG
4.多項(xiàng)選擇題?CVD技術(shù)可以制備的薄膜有()。
A.SiO2
B.單晶硅
C.BSG
D.Si3N4
5.多項(xiàng)選擇題?濺射方法從本質(zhì)上可分為()。
A.反應(yīng)濺射
B.直流濺射
C.磁控濺射
D.射頻濺射
![](https://static.ppkao.com/ppmg/img/appqrcode.png)
最新試題
鍵合工藝失效,,鍵合點(diǎn)尾絲不一致,可能產(chǎn)生的原因有()。
題型:多項(xiàng)選擇題
下面關(guān)于BGA的特點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
AUBM的形成可以采用()方法。
題型:多項(xiàng)選擇題
因?yàn)镼FP封裝的可靠性高,且其封裝外形尺寸較小,寄生參數(shù)減小,故多用于高頻電路、音頻電路、微處理器、電源電路。
題型:判斷題
通常芯片上的引出端焊盤(pán)是排列在管芯片附近的方形()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
塑封料的機(jī)械性能包括的模量有()。
題型:多項(xiàng)選擇題
下面關(guān)于PBGA器件的優(yōu)缺點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
凸點(diǎn)的制作技術(shù)有()。
題型:多項(xiàng)選擇題
倒裝芯片的連接方式有()。
題型:多項(xiàng)選擇題
在近十年由于材料和設(shè)備的發(fā)展,同時(shí)伴隨電子產(chǎn)品功能的日益增強(qiáng),()再次來(lái)到大眾視線(xiàn)
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題