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A.著色滲透檢測(cè)用的試塊可以用于熒光滲透檢測(cè)
B.熒光滲透檢測(cè)用的試塊可以用于著色滲透檢測(cè)
C.試塊有阻塞時(shí)可繼續(xù)使用
D.試塊使用后要用丙酮進(jìn)行徹底清洗
A.溶劑去除型著色法
B.水洗型著色法
C.后乳化型著色法
D.溶劑去除型熒光法
A.造成浪費(fèi)
B.降低靈敏度發(fā)生漏檢
C.造成污染
D.只要掌握的好，可達(dá)到最佳清洗效果
A.深而窄的缺陷
B.深的麻點(diǎn)
C.淺而寬的缺陷
D.以上都是
A.白色背景上的明亮紅光
B.灰色背景上的紅色顯示
C.白色背景上的紅色顯示
D.發(fā)亮的白色背景上的紅色顯示
最新試題
X射線檢測(cè)人員健康體檢為每（）年一次。
航天無損檢測(cè)人員的資格分為三個(gè)等級(jí)：Ⅰ級(jí)為初級(jí)，Ⅱ級(jí)為中級(jí)，Ⅲ級(jí)為高級(jí)。其中Ⅱ級(jí)人員應(yīng)具備的能力有（）。
對(duì)焊接接頭穩(wěn)定時(shí)間有規(guī)定的產(chǎn)品，工藝規(guī)程應(yīng)作出規(guī)定，檢驗(yàn)監(jiān)控確認(rèn)，檢驗(yàn)蓋章時(shí)穩(wěn)定時(shí)間不足者應(yīng)在申請(qǐng)單注明穩(wěn)定時(shí)間節(jié)點(diǎn)，否則X光室視為穩(wěn)定時(shí)間符合要求。
X光檢驗(yàn)組按復(fù)查清單組織復(fù)查，并出具X光底片復(fù)查報(bào)告，復(fù)查無遺留問題方可進(jìn)行試壓。
點(diǎn)焊未熔合、脫焊等面狀缺陷最有效的檢測(cè)方法是X射線檢測(cè)。
超差缺陷是否排除，由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請(qǐng)、檢驗(yàn)蓋章認(rèn)可后送X光檢測(cè)。
像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同，相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時(shí)可適當(dāng)減少放置次數(shù)．但不少于透照次數(shù)的三分之一。
在射線照相檢驗(yàn)中，隨著射線能量的提高，得到的圖像不清晰度也將增大。
底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。
檢測(cè)申請(qǐng)時(shí)工序狀態(tài)應(yīng)清楚、工序質(zhì)量應(yīng)符合工序質(zhì)量要求，檢驗(yàn)蓋章確認(rèn)，確保焊接、檢驗(yàn)、檢測(cè)等全過程具有可追溯性。