A.溶劑去除型著色法
B.水洗型著色法
C.后乳化型著色法
D.溶劑去除型熒光法
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A.造成浪費(fèi)
B.降低靈敏度發(fā)生漏檢
C.造成污染
D.只要掌握的好，可達(dá)到最佳清洗效果
A.深而窄的缺陷
B.深的麻點(diǎn)
C.淺而寬的缺陷
D.以上都是
A.白色背景上的明亮紅光
B.灰色背景上的紅色顯示
C.白色背景上的紅色顯示
D.發(fā)亮的白色背景上的紅色顯示
A.過分的清洗
B.滲透探傷時(shí)工件或滲透劑太冷
C.顯像劑施加不當(dāng)
D.工件表面沾有棉絨或污垢
A.細(xì)而短的顯示
B.寬而短的顯示
C.細(xì)而長(zhǎng)的顯示
D.窄而短的顯示
最新試題
對(duì)于厚度變化較大的變截面工件透照，只要底片黑度符合GJB1187A的要求時(shí)，就可采用多膠片技術(shù)。
對(duì)于圓柱導(dǎo)體的外通過式線圈，其阻抗變大的情況有（）
廢舊藥液應(yīng)采用專用容器收集，定期送指定的機(jī)構(gòu)處理。
航天無損檢測(cè)人員的資格分為三個(gè)等級(jí)：Ⅰ級(jí)為初級(jí)，Ⅱ級(jí)為中級(jí)，Ⅲ級(jí)為高級(jí)。其中Ⅱ級(jí)人員應(yīng)具備的能力有（）。
在射線照相檢驗(yàn)中，隨著射線能量的提高，得到的圖像不清晰度也將增大。
底片或電子圖片、X射線照相檢驗(yàn)記錄、射線檢測(cè)報(bào)告副本、檢測(cè)報(bào)告等及臺(tái)帳由X光透視人員負(fù)責(zé)管理。
檢測(cè)申請(qǐng)時(shí)工序狀態(tài)應(yīng)清楚、工序質(zhì)量應(yīng)符合工序質(zhì)量要求，檢驗(yàn)蓋章確認(rèn)，確保焊接、檢驗(yàn)、檢測(cè)等全過程具有可追溯性。
像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同，相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時(shí)可適當(dāng)減少放置次數(shù)．但不少于透照次數(shù)的三分之一。
一次完整的兩面多層補(bǔ)焊，當(dāng)正面打底層質(zhì)量進(jìn)行過一次X射線檢測(cè)，若反面還需打底，則無需X射線檢測(cè)。
二次打底焊接或重熔排除，無需辦理相關(guān)手續(xù)，直接使用前次的申請(qǐng)手續(xù)。