A.橫向分辨力降低
B.聲束擴(kuò)散角增大
C.近場長度增大
D.指向性變差
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A.用直探頭和斜探頭檢測軸類鍛件，可檢測到整個(gè)軸類鍛件全體積
B.檢測時(shí)，聲束入射方向盡可能與鍛件流線方向垂直
C.斜探頭檢測筒形鍛件的目的是發(fā)現(xiàn)與軸線垂直的徑向缺陷
D.軸向檢測時(shí)應(yīng)考慮缺陷定位修正
A.頻率常數(shù)Nt越大，制作給定頻率探頭的晶片越薄
B.不同壓電晶體材料中聲速不一樣，因此不同壓電材料的頻率常數(shù)也不一樣
C.頻率常數(shù)Nt是壓電晶片的厚度與固有頻率的乘積
D.同種壓電材料，制作高頻探頭時(shí)，晶片厚度較小
A.降低
B.升高
C.不變
A.橫波反射率γss很低，縱波反射率γsL較高
B.橫波反射率γss為100%
C.縱波反射率γsL為100%
D.橫波反射率γss很高，縱波反射率γsL較低
A.在有機(jī)玻璃斜楔中產(chǎn)生
B.在晶片上直接產(chǎn)生
C.在有機(jī)玻璃耦合層界面上產(chǎn)生
D.在耦合層與鋼板界面上產(chǎn)生
最新試題
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
（）是影響缺陷定量的因素。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
檢測靈敏度太高和太低對(duì)檢測都不利。靈敏度太低，（）。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。