單項(xiàng)選擇題直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
A.除薄層耦合劑外不再有其他介質(zhì)的情形
B.用一定厚度的液體作為耦合劑的檢測(cè)方法
C.直接接觸的檢測(cè)方法
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1.單項(xiàng)選擇題（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
A.K式檢測(cè)
B.并列式檢測(cè)
C.串列式檢測(cè)
D.交叉式檢測(cè)
2.單項(xiàng)選擇題（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
A.單探頭法
B.并列式檢測(cè)
C.串列式檢測(cè)
D.交叉式檢測(cè)
3.單項(xiàng)選擇題單探頭法容易檢出（）。
A.與探測(cè)面成某一角度的缺陷
B.與波束軸線垂直的片狀缺陷和立體狀缺陷
C.與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷
D.與探測(cè)面垂直的橫向缺陷
4.單項(xiàng)選擇題（）可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
A.表面波法
B.縱波法
C.導(dǎo)波法
D.橫波法
5.單項(xiàng)選擇題板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
A.內(nèi)部缺陷
B.表面缺陷
C.近表面缺陷
D.內(nèi)部和表面缺陷
最新試題
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱(chēng)為（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
儀器水平線性影響（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題