A.用直探頭和斜探頭檢測軸類鍛件，可檢測到整個軸類鍛件全體積
B.檢測時，聲束入射方向盡可能與鍛件流線方向垂直
C.斜探頭檢測筒形鍛件的目的是發(fā)現(xiàn)與軸線垂直的徑向缺陷
D.軸向檢測時應(yīng)考慮缺陷定位修正
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A.頻率常數(shù)Nt越大，制作給定頻率探頭的晶片越薄
B.不同壓電晶體材料中聲速不一樣，因此不同壓電材料的頻率常數(shù)也不一樣
C.頻率常數(shù)Nt是壓電晶片的厚度與固有頻率的乘積
D.同種壓電材料，制作高頻探頭時，晶片厚度較小
A.降低
B.升高
C.不變
A.橫波反射率γss很低，縱波反射率γsL較高
B.橫波反射率γss為100%
C.縱波反射率γsL為100%
D.橫波反射率γss很高，縱波反射率γsL較低
A.在有機玻璃斜楔中產(chǎn)生
B.在晶片上直接產(chǎn)生
C.在有機玻璃耦合層界面上產(chǎn)生
D.在耦合層與鋼板界面上產(chǎn)生
A.有利于提高分辨力
B.有利于改善聲束指向性
C.有利于發(fā)現(xiàn)較小缺陷
D.以上都可以
最新試題
實際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
超聲檢測對缺陷定位時，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。
用橫波斜探頭檢測，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
利用底波計算法校準(zhǔn)靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
探頭延檢測面水平移動，超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為（）。
當(dāng)縱波直探頭置于細長工件上時，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
底波計算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進行靈敏度校準(zhǔn)。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。