A.金屬膜片加裝硬芯
B.金屬膜片滾焊在基座上
C.加裝密封圈和充注液體
D.金屬膜片剛度要盡量大
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A.抽成真空
B.充注乙醚
C.充注丙酮
D.充注硅油
A.測量膜盒的有效面積不同
B.主杠桿的長度不同
C.功率放大器的結(jié)構(gòu)不同
D.反饋波紋管不同
A.主杠桿長
B.測量膜盒大
C.反饋波紋管大
D.彈性支點剛度小
A.把壓差信號轉(zhuǎn)換成軸向推力
B.把壓差信號轉(zhuǎn)換成擋板開度
C.把壓差信號轉(zhuǎn)換成0.02~0.1MPa氣壓信號
D.把壓差信號轉(zhuǎn)換成主杠桿的轉(zhuǎn)角
A.測量波紋管,反饋波紋管
B.反饋波紋管,二級放大環(huán)節(jié)
C.噴嘴擋板機構(gòu),氣動功率放大器
D.測量部分,氣動轉(zhuǎn)換部分
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最新試題
采樣控制系統(tǒng)在采樣間隔期間,對作用于系統(tǒng)的擾動沒有補償作用。()
用根軌跡法設(shè)計系統(tǒng)的校正裝置,首先由給定的()確定主導極點的位置:然后通過設(shè)置校正裝置的()使根軌跡通過主導極點的預(yù)期位置;最后,計算預(yù)期位置處的根軌跡增益從而得到校正裝置(),通過增加()滿足系統(tǒng)的靜態(tài)精度要求。
關(guān)于控制系統(tǒng)的數(shù)學模型,下列說法錯誤的是:()
在負反饋系統(tǒng)中,若開環(huán)傳遞函數(shù)增加了一個位于s左半平面的極點,則其根軌跡()。
相位超前-滯后校正網(wǎng)絡(luò)在()頻段是一個滯后校正環(huán)節(jié)。
用根軌跡法進行系統(tǒng)校正,是將高階系統(tǒng)看作次阻尼二階系統(tǒng)進行設(shè)計,所以,在校正裝置設(shè)計之后,需要進行(),看被忽略掉的系統(tǒng)極點對系統(tǒng)動態(tài)性能的影響。正因為降階處理的粗略性,設(shè)計初確定主導極點位置時需要留出()。
關(guān)于結(jié)構(gòu)圖的化簡,說法錯誤的是()
滯后校正能夠在開環(huán)比例系數(shù)不降低的前提下,降低()頻段和()頻段的開環(huán)增益而不影響()頻段。
微分方程階數(shù)從傳遞函數(shù)中看不出來。()
系統(tǒng)局部反饋通路中接入的校正裝置稱為()校正裝置。