A.移動探頭至裂紋顯示波高與人工反射體波高相同的點(diǎn);
B.移動探頭至裂紋顯示波高與底面回波高度相同的點(diǎn);
C.移動探頭至裂紋顯示波高50%的點(diǎn);
D.以上都可以。
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A.0.8mm
B.1.2mm
C.2.0mm
D.3.2mm
A.等于聲波在工件中的傳播時(shí)間;
B.大于聲波在工件中的傳播時(shí)間;
C.小于聲波在工件中的傳播時(shí)間;
D.以上都不對。
A.掃查面上多余的耦合劑會產(chǎn)生假顯示
B.探頭與斜楔接觸不良會降低靈敏度
C.熒光屏上的固定回波有可能是斜楔內(nèi)產(chǎn)生的反射波
D.以上都有可能
A.底波后7.6D
B.底波前7.6D
C.底波后0.76D
D.底波前0.76D
A.緊鄰孔波之后的位置
B.緊鄰始波之后的位置
C.緊鄰孔波之前的位置
D.任何位置都有可能
最新試題
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯(cuò)誤的是()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
超聲檢測儀盲區(qū)是指()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
在對缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
()是影響缺陷定量的因素。