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單項(xiàng)選擇題

（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。

A.K式檢測(cè)
B.并列式檢測(cè)
C.串列式檢測(cè)
D.交叉式檢測(cè)

你可能感興趣的試題

單項(xiàng)選擇題

（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。

A.單探頭法
B.并列式檢測(cè)
C.串列式檢測(cè)
D.交叉式檢測(cè)

單項(xiàng)選擇題

單探頭法容易檢出（）。

A.與探測(cè)面成某一角度的缺陷
B.與波束軸線垂直的片狀缺陷和立體狀缺陷
C.與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷
D.與探測(cè)面垂直的橫向缺陷

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