A.只有縱波
B.只有橫波
C.只有表面波
D.縱波、橫波、表面波
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A.重復(fù)檢驗(yàn)
B.清除可疑部位后重新檢驗(yàn)
C.進(jìn)行其他NDT方法檢驗(yàn)
D.以上都可以
A.是可疑的
B.是不合格
C.是合格
D.以上A或B
A.未產(chǎn)生缺陷信號(hào)
B.信號(hào)幅度低于設(shè)定的報(bào)警電平
C.以上A和B
D.以上A或B
A.不大于8小時(shí)
B.不大于6小時(shí)
C.不大于4小時(shí)
D.不大于2小時(shí)
A.不小于14mm
B.不大于14mm
C.不大于25mm
D.不小于25mm
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最新試題
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
()是影響缺陷定量的因素。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。