A.x〈3NB.x≥NC.x≥2ND.x≥3N
A.始波B.界面回波C.底面反射回波D.缺陷反射回波
A.選擇與待檢工件尺寸相同或相近的試塊B.將探頭對準試塊上的人工反射體,調節(jié)儀器使示波屏上人工缺陷的最高反射波達到基準波高C.計算出人工反射體與所要求的靈敏度之間的回波分貝差Δ(dB)D.將儀器靈敏度增益Δ(dB),并根據工件和試塊的材質給予一定補償