A.密度B.聲阻抗C.晶粒度D.表面粗糙度
A.可不考慮檢測(cè)耦合差補(bǔ)償B.適用于檢測(cè)的聲程小于等于3NC.可不使用試塊D.缺陷定量可采用計(jì)算法或AVG曲線法
A.x〈3NB.x≥NC.x≥2ND.x≥3N