A.只有埋藏缺陷
B.只有表面開(kāi)口缺陷
C.各種缺陷,幾乎與指向性無(wú)關(guān)
D.只有面積性缺陷
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A.可行性更高
B.定量精度更高
C.檢測(cè)效率更高
D.缺陷定性更準(zhǔn)確
A.缺陷與標(biāo)準(zhǔn)反射體的形狀和表面粗糙度不同
B.工件與標(biāo)準(zhǔn)試塊的表面粗糙度不同,操作時(shí)對(duì)探頭的壓緊力改變
C.缺陷的傾斜角度
D.以不均不會(huì)
A.采用較小的PCS和較窄的波束寬度
B.采用較小的PCS和低的頻率
C.采用較大的PCS和較窄的波束寬度
D.采用較大的PCS和較高的頻率
A.缺陷的長(zhǎng)度
B.缺陷的高度
C.缺陷距焊縫中線的距離
D.缺陷的傾斜角度
A.一次掃查能夠?qū)崿F(xiàn)大范圍檢測(cè),效率高
B.能同時(shí)得到缺陷長(zhǎng)度和高度數(shù)據(jù)
C.焊縫余高不影響掃查,操作方便
D.定位定量準(zhǔn)確
最新試題
康普頓效應(yīng)對(duì)射線檢測(cè)的影響包括()
通常所謂20KV的X射線是指()
一般認(rèn)為表面波探測(cè)的有效深度約為()
底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是()
物質(zhì)對(duì)輻射的吸收是隨什么而變()
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響()
對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷,一般采用()檢測(cè)。
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線,穿過(guò)一個(gè)厚度為X的物質(zhì),其強(qiáng)度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()
若評(píng)片燈亮度增為原來(lái)的兩倍,則底片透光度(It/I0)變?yōu)樵瓉?lái)的()
以下試塊中,能用于測(cè)定縱波直探頭分辨力的是()