單項(xiàng)選擇題以下試塊中,能用于測(cè)定縱波直探頭分辨力的是()
A.IIW
B.IIW2
C.RB-1
D.CS-2
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1.單項(xiàng)選擇題某超聲波探頭,壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm,則該探頭工作頻率為()
A.5kHz
B.5MHz
C.2.5MHz
D.2.5KMz
2.單項(xiàng)選擇題超聲波斜探頭的K值等于()的正切值。
A.縱波折射角
B.橫波折射角
C.縱波入射角
D.橫波反射角
3.單項(xiàng)選擇題超聲波探頭上標(biāo)稱的頻率是()
A.重復(fù)頻率
B.晶片振動(dòng)頻率
C.回波頻率
D.電源頻率
4.單項(xiàng)選擇題使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是()
A.能更準(zhǔn)確地測(cè)量缺陷高度
B.能更準(zhǔn)確地測(cè)量缺陷長(zhǎng)度
C.更有利于發(fā)現(xiàn)和判斷上表面附近的缺陷
D.更有利于發(fā)現(xiàn)和判斷底面附近的缺陷
5.單項(xiàng)選擇題二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝,以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述,哪一條是錯(cuò)誤的()
A.二次波檢測(cè)可以解決焊縫余高過(guò)寬影響探頭設(shè)置的困難
B.二次波檢測(cè)可以解決直通波盲區(qū)造成的近表面裂紋漏檢
C.二次波檢測(cè)以二次反射表面產(chǎn)生的波作為底面波
D.二次波檢測(cè)時(shí)探頭間距不能太大,以確保回波在底波波型轉(zhuǎn)換之前到達(dá)
最新試題
若評(píng)片燈亮度增為原來(lái)的兩倍,則底片透光度(It/I0)變?yōu)樵瓉?lái)的()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
不同材料的相對(duì)吸收系數(shù)()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝,以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述,哪一條是錯(cuò)誤的()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是()
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以下試塊中,能用于測(cè)定縱波直探頭分辨力的是()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
超聲波斜探頭的K值等于()的正切值。
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一般認(rèn)為表面波探測(cè)的有效深度約為()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
光電效應(yīng)發(fā)生的機(jī)率隨什么變化()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
超聲波探頭上標(biāo)稱的頻率是()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
以下耦合劑中,可用于粗糙表面檢測(cè)的是()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題