A.缺陷與標(biāo)準(zhǔn)反射體的形狀和表面粗糙度不同
B.工件與標(biāo)準(zhǔn)試塊的表面粗糙度不同,操作時(shí)對(duì)探頭的壓緊力改變
C.缺陷的傾斜角度
D.以不均不會(huì)
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.采用較小的PCS和較窄的波束寬度
B.采用較小的PCS和低的頻率
C.采用較大的PCS和較窄的波束寬度
D.采用較大的PCS和較高的頻率
A.缺陷的長(zhǎng)度
B.缺陷的高度
C.缺陷距焊縫中線的距離
D.缺陷的傾斜角度
A.一次掃查能夠?qū)崿F(xiàn)大范圍檢測(cè),效率高
B.能同時(shí)得到缺陷長(zhǎng)度和高度數(shù)據(jù)
C.焊縫余高不影響掃查,操作方便
D.定位定量準(zhǔn)確
A.可增大檢測(cè)范圍
B.可提高缺陷高度測(cè)量的精度
C.可消除表面盲區(qū)
D.可改進(jìn)缺陷定位
A.TOFD衍射信號(hào)的振幅顯著下降,缺陷難以檢出
B.TOFD衍射信號(hào)的振幅輕微下降,一般不影響檢出
C.TOFD衍射信號(hào)的振幅顯著上升,對(duì)檢出有利
D.以上都不對(duì)
最新試題
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線,穿過(guò)一個(gè)厚度為X的物質(zhì),其強(qiáng)度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()
通常所謂20KV的X射線是指()
在工作中超聲波檢測(cè)儀屏幕上可能會(huì)出現(xiàn)()等信號(hào)波,需要仔細(xì)判別。
射線照片上一個(gè)細(xì)節(jié)的影像是否能被眼睛識(shí)別出來(lái),最主要的是決定于()
以下試塊中,能用于測(cè)定縱波直探頭分辨力的是()
下列對(duì)耦合劑應(yīng)該具有的特點(diǎn)的描述,不正確的一項(xiàng)是()
影響較大的散射線通常來(lái)自()
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響()
最容易發(fā)生康普頓效應(yīng)的射線能量為()
康普頓效應(yīng)對(duì)射線檢測(cè)的影響包括()