（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。

檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。

超聲波儀時基線的水平刻度與實際聲程成正比的程度，即（）。

（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。

直接接觸法是指探頭與工件之間（）。

底波計算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進行靈敏度校準。

移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點，兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。

調(diào)節(jié)時基線時，應使（）同時對準相應的聲程位置。

缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。

單探頭法容易檢出（）。