A.實(shí)施檢測的具體操作文件B.對檢測提出最低的質(zhì)量控制要求C.可以覆蓋一類材料或產(chǎn)品D.可以覆蓋未來同類材料或產(chǎn)品
A.相關(guān)的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)B.材料或產(chǎn)品的技術(shù)條件C.合同條款或技術(shù)協(xié)議內(nèi)容D.對比試樣上的人工缺陷的最小尺寸
A.用于校準(zhǔn)儀器的基體的電導(dǎo)率應(yīng)與被檢測對象的電導(dǎo)率相一致性。B.用于校準(zhǔn)儀器的基體的磁導(dǎo)率應(yīng)與被檢測對象的磁導(dǎo)率相一致性。C.用于校準(zhǔn)儀器的標(biāo)準(zhǔn)厚度膜片的厚度值與實(shí)際被測量膜層厚度的相同。D.盡可能選擇兩個厚度值覆蓋被測量膜厚度變化范圍的標(biāo)準(zhǔn)膜片校準(zhǔn)儀器。