A.用于校準(zhǔn)儀器的基體的電導(dǎo)率應(yīng)與被檢測(cè)對(duì)象的電導(dǎo)率相一致性。B.用于校準(zhǔn)儀器的基體的磁導(dǎo)率應(yīng)與被檢測(cè)對(duì)象的磁導(dǎo)率相一致性。C.用于校準(zhǔn)儀器的標(biāo)準(zhǔn)厚度膜片的厚度值與實(shí)際被測(cè)量膜層厚度的相同。D.盡可能選擇兩個(gè)厚度值覆蓋被測(cè)量膜厚度變化范圍的標(biāo)準(zhǔn)膜片校準(zhǔn)儀器。
A.缺陷形式B.加工部件及大小C.檢測(cè)要求和渦流檢測(cè)能力D.檢測(cè)效率
A.大直徑差動(dòng)放置式線圈B.小直徑差動(dòng)放置式線圈C.大直徑絕對(duì)放置式線圈D.小直徑絕對(duì)放置式線圈