A.相關(guān)的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)B.材料或產(chǎn)品的技術(shù)條件C.合同條款或技術(shù)協(xié)議內(nèi)容D.對(duì)比試樣上的人工缺陷的最小尺寸
A.用于校準(zhǔn)儀器的基體的電導(dǎo)率應(yīng)與被檢測(cè)對(duì)象的電導(dǎo)率相一致性。B.用于校準(zhǔn)儀器的基體的磁導(dǎo)率應(yīng)與被檢測(cè)對(duì)象的磁導(dǎo)率相一致性。C.用于校準(zhǔn)儀器的標(biāo)準(zhǔn)厚度膜片的厚度值與實(shí)際被測(cè)量膜層厚度的相同。D.盡可能選擇兩個(gè)厚度值覆蓋被測(cè)量膜厚度變化范圍的標(biāo)準(zhǔn)膜片校準(zhǔn)儀器。
A.缺陷形式B.加工部件及大小C.檢測(cè)要求和渦流檢測(cè)能力D.檢測(cè)效率