A.盡量從兩個方向進(jìn)行掃查,以保證聲束覆蓋整個孔內(nèi)壁;
B.探頭在凸耳外圓與桿身過度區(qū)掃查時,可能會出現(xiàn)孔波的情況;
C.探頭應(yīng)轉(zhuǎn)動或傾斜掃查,以便發(fā)現(xiàn)位于側(cè)壁的小缺陷;
D.以上都是。
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A.利用受檢件底面回波;
B.利用受檢件側(cè)壁回波;
C.利用受檢件孔壁回波;
D.盡可能將儀器增益調(diào)至最大。
A.能夠看清參考試塊人工缺陷信號和觸發(fā)報警
B.能夠看清底波信號并保持信號穩(wěn)定
C.能夠清晰分辨出裂紋信號和由結(jié)構(gòu)引起的非裂紋等干擾信號
D.能夠很容易在參考試塊上找出人工缺陷信號
A.容易接近的區(qū)域
B.任何區(qū)域
C.不容易接近的區(qū)域
D.以上都是
A.0°~38°
B.38°~70°
C.0°~70°
D.45°~60°
A.僅需要去除可能存在裂紋區(qū)域的膠層
B.僅需要去除掃描區(qū)域的膠層
C.僅需要去除底面的膠層
D.去除全部的膠層
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最新試題
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時,需要進(jìn)行傳輸修正。
儀器水平線性影響()。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯誤的是()。
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
底波計算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
()是影響缺陷定量的因素。
調(diào)節(jié)時基線時,應(yīng)使()同時對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。