A.利用受檢件底面回波；
B.利用受檢件側(cè)壁回波；
C.利用受檢件孔壁回波；
D.盡可能將儀器增益調(diào)至最大。
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.能夠看清參考試塊人工缺陷信號(hào)和觸發(fā)報(bào)警
B.能夠看清底波信號(hào)并保持信號(hào)穩(wěn)定
C.能夠清晰分辨出裂紋信號(hào)和由結(jié)構(gòu)引起的非裂紋等干擾信號(hào)
D.能夠很容易在參考試塊上找出人工缺陷信號(hào)
A.容易接近的區(qū)域
B.任何區(qū)域
C.不容易接近的區(qū)域
D.以上都是
A.0°~38°
B.38°~70°
C.0°~70°
D.45°~60°
A.僅需要去除可能存在裂紋區(qū)域的膠層
B.僅需要去除掃描區(qū)域的膠層
C.僅需要去除底面的膠層
D.去除全部的膠層
A.底波降低
B.雜波增高
C.底波前移
D.底波變寬
最新試題
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為（）。
單探頭法容易檢出（）。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。