實驗室有X射線衍射儀器，掃描電鏡，電子探針、透射電鏡、X射線光電子能譜儀和差示掃描量熱儀等測試儀器，現(xiàn)對非晶塊體材料AmBn進行分析： （a）AmBn熱穩(wěn)定性分析； （b）結構分析； （c）物相分析。 試確定實驗方案，并指出分析目的。
最新試題
熱分析中，不同性質的氣氛對測試結果沒有影響。
被樣品原子核反彈回來的入射電子稱為非彈性背散射電子，能量基本上沒有損失。
掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。
在紅外光譜分析中，基本振動區(qū)是指（）。
晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）。
