問(wèn)答題

【簡(jiǎn)答題】如何對(duì)重量為5克的24k金首飾進(jìn)行無(wú)損真?zhèn)舞b定，寫(xiě)出檢測(cè)方案和步驟。

答案：無(wú)損驗(yàn)證真?zhèn)危弘娮犹结樏鎾呙?、波譜儀、JF330固體材料密度測(cè)量?jī)x。
①用電子探針對(duì)樣品表面做光柵式面掃描，以...

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問(wèn)答題

【簡(jiǎn)答題】
實(shí)驗(yàn)室有X射線衍射儀器，掃描電鏡，電子探針、透射電鏡、X射線光電子能譜儀和差示掃描量熱儀等測(cè)試儀器，現(xiàn)對(duì)非晶塊體材料AmBn進(jìn)行分析：
（a）AmBn熱穩(wěn)定性分析；
（b）結(jié)構(gòu)分析；
（c）物相分析。
試確定實(shí)驗(yàn)方案，并指出分析目的。

答案： A.差示掃描熱議：定量測(cè)定多種熱力學(xué)和動(dòng)力學(xué)參數(shù)；
B.透射電鏡：目的是對(duì)材料的晶體結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析；
...

問(wèn)答題

【簡(jiǎn)答題】指出下列敘述中的錯(cuò)誤，并予以改正：“對(duì)材料AmBn的研究方法是：用X射線衍射儀器對(duì)材料進(jìn)行含量及顯微組織形貌的測(cè)定；用掃描電鏡對(duì)材料進(jìn)行物相分析，確定其晶體學(xué)參數(shù)；用透射電鏡對(duì)材料界面、結(jié)合組態(tài)進(jìn)行測(cè)試分析”。

答案： X.射線衍射儀可以對(duì)材料進(jìn)行物相分析，確定其晶體學(xué)參數(shù)，但無(wú)法對(duì)材料進(jìn)行含量及顯微組織形貌的測(cè)定；掃描電鏡可以測(cè)定材料的...