A.-180°
B.180°
C.-90°
D.90°
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A.右根
B.左根
C.0根
D.實(shí)根
A.-20dB/dec
B.20dB/dec
C.-40dB/dec
D.40dB/dec
A.計(jì)算
B.順饋
C.比較
D.反饋
某集成電路的Bode圖如下圖所示:
(1)讀圖求出系統(tǒng)的幅值裕度和相角裕度;
(2) 為了使相角裕度達(dá)到60度,系統(tǒng)的增益應(yīng)該下降多少dB?
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最新試題
關(guān)于控制系統(tǒng)的數(shù)學(xué)模型,下列說(shuō)法錯(cuò)誤的是:()
關(guān)于結(jié)構(gòu)圖的化簡(jiǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()
PID控制器的特點(diǎn)包括()。
已知某單位負(fù)反饋系統(tǒng)在單位階躍輸入信號(hào)作用下的穩(wěn)態(tài)誤差為零,且系統(tǒng)的閉環(huán)特征方程為s3+2s2+3s+2=0,則系統(tǒng)的開環(huán)傳遞函數(shù)不可能為()。
采樣控制系統(tǒng)在采樣間隔期間,對(duì)作用于系統(tǒng)的擾動(dòng)沒有補(bǔ)償作用。()
滯后校正能夠在開環(huán)比例系數(shù)不降低的前提下,降低()頻段和()頻段的開環(huán)增益而不影響()頻段。
系統(tǒng)的相角裕量越大,超調(diào)越();截至頻率越高,快速性越(),抗高頻干擾的能力越()。
二次振蕩環(huán)節(jié)中包含()個(gè)獨(dú)立儲(chǔ)能元件。
閉環(huán)極點(diǎn)的積等于開環(huán)極點(diǎn)的積。()
用根軌跡法設(shè)計(jì)系統(tǒng)的校正裝置,首先由給定的()確定主導(dǎo)極點(diǎn)的位置:然后通過(guò)設(shè)置校正裝置的()使根軌跡通過(guò)主導(dǎo)極點(diǎn)的預(yù)期位置;最后,計(jì)算預(yù)期位置處的根軌跡增益從而得到校正裝置(),通過(guò)增加()滿足系統(tǒng)的靜態(tài)精度要求。