A.缺陷反射面大小
B.缺陷性質(zhì)
C.缺陷取向
D.以上全部
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A. K 值是不穩(wěn)定的數(shù)據(jù)
B. K 值隨電壓的變化而變化
C. K 值常因磨損而發(fā)生變化
D.以上都對(duì)
A.探頭磨損會(huì)使入射點(diǎn)發(fā)生變化
B. 探頭磨損可能導(dǎo)致探頭K值的增大或減小
C. 探頭磨損可能導(dǎo)致儀器的水平線性的變化
D. 探頭磨損可能導(dǎo)致掃描速度的變化
A.儀器和探頭
B.操作人員的影響
C.工件的影響
D.耦合劑的影響
A. 前后、左右
B. 轉(zhuǎn)角
C. 環(huán)繞
D. 以上都是
A. 試塊調(diào)整法
B. 底波調(diào)整法
C. 距離-波幅-當(dāng)量曲線法
D. AVG曲線法
最新試題
用斜探頭檢測(cè)板厚T = 20mm ，上、下焊縫寬度為30mm的對(duì)接接頭，探頭前沿長(zhǎng)度為 20mm ，為保證聲束能掃查到整個(gè)焊接接頭截面，試確定用一、二次波檢測(cè)時(shí)探頭的K值？
用K2探頭檢測(cè)板厚分別為30mm 、65mm的鋼板對(duì)接焊縫，試問(wèn)按照J(rèn)B/T4730.3-2005《承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)》 B級(jí)標(biāo)準(zhǔn)焊縫兩側(cè)的修磨寬度各為多少？
用2.5P20Z探頭檢測(cè)厚400mm的鋼鍛件，鋼中CL=5900m/s ， 衰減系數(shù)α2= 0.01dB/mm ， （1）如用試塊（衰減可忽略）上的深200mm ，Ф4mm的平底孔校準(zhǔn)400mm處檢測(cè)靈敏度（400/Ф2），兩者的波高差為多少？ （2）如果用厚度為200mm的試塊（鍛件與試塊衰減系數(shù)相同，耦合差為5dB）底波調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度（400/Ф2），兩者反射波高差為多少？
用2.5P14Z探頭探測(cè)某鍛件，發(fā)現(xiàn)在100mm深處有一個(gè)Φ6當(dāng)量平底孔缺陷，根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)評(píng)幾級(jí)？
用2.5P14Z探頭檢測(cè)某鍛件，發(fā)現(xiàn)在50mm深處有一缺陷引起的底波降低量為18dB，另一處密集區(qū)缺陷面積為 100cm2，檢測(cè)總面積為0.5米×0.5米，同時(shí)發(fā)現(xiàn)一單個(gè)缺陷，當(dāng)量為Φ4+10dB，試根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)評(píng)定此鍛件等級(jí)。
用2.5MHz、Φ20mm直探頭探測(cè)厚為200mm的餅形鍛件，已知底波B1=80%，B2=35%，若不計(jì)底面反射損失，求該鍛件的材質(zhì)衰減系數(shù)為多少？
用2.5P20Z直探頭檢測(cè)厚350mm的鋼鍛件(CL=5900m/s ) ,如何用工件底波校準(zhǔn)檢測(cè)靈敏度（350/ф2）？
用2.5P20Z探頭檢測(cè)厚400mm的鋼鍛件，鋼中CL=5900m/s ， 如何用試塊上的深150mm ，Ф4mm的平底孔校準(zhǔn)400mm處的檢測(cè)靈敏度（400/Ф2）？
用2.5P20Z探頭檢測(cè)400mm的工件, CL= 5900m/s , 如何利用150mm處Ф4平底孔調(diào)節(jié)400/Ф2靈敏度？
對(duì)厚度40mm的鋼板用水浸二次重合法檢測(cè)，用鋼試塊按1 ： 2 調(diào)節(jié)儀器的掃描速度并校正“0”點(diǎn)，求： （1）水層厚度為多少？ （2）如鋼板中距上表面12mm深度處存在缺陷，則缺陷回波的水平刻度值應(yīng)為多少？ （3）示波屏上τf2= 50處出現(xiàn)缺陷回波，求缺陷距鋼板上表面的深度？