A.探頭磨損會(huì)使入射點(diǎn)發(fā)生變化 B. 探頭磨損可能導(dǎo)致探頭K值的增大或減小 C. 探頭磨損可能導(dǎo)致儀器的水平線性的變化 D. 探頭磨損可能導(dǎo)致掃描速度的變化
A.儀器和探頭 B.操作人員的影響 C.工件的影響 D.耦合劑的影響
A. 前后、左右 B. 轉(zhuǎn)角 C. 環(huán)繞 D. 以上都是