A. K 值是不穩(wěn)定的數(shù)據(jù) B. K 值隨電壓的變化而變化 C. K 值常因磨損而發(fā)生變化 D.以上都對(duì)
A.探頭磨損會(huì)使入射點(diǎn)發(fā)生變化 B. 探頭磨損可能導(dǎo)致探頭K值的增大或減小 C. 探頭磨損可能導(dǎo)致儀器的水平線性的變化 D. 探頭磨損可能導(dǎo)致掃描速度的變化
A.儀器和探頭 B.操作人員的影響 C.工件的影響 D.耦合劑的影響