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問(wèn)答題
【案例分析題】試為下述分析工作選擇你認(rèn)為恰當(dāng)?shù)模ㄒ环N或幾種）分析方法區(qū)別FeO、Fe2O3和Fe3O4
答案：
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【案例分析題】試為下述分析工作選擇你認(rèn)為恰當(dāng)?shù)模ㄒ环N或幾種）分析方法測(cè)定Ag的點(diǎn)陣常數(shù)
答案：
晶體點(diǎn)陣常數(shù)的測(cè)定通常采用衍射法。如果樣品足夠多，用粉末X射線衍射（XRD）儀法測(cè)定晶體的點(diǎn)陣常數(shù)是最方便、最快捷、最準(zhǔn)...
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【案例分析題】試為下述分析工作選擇你認(rèn)為恰當(dāng)?shù)模ㄒ环N或幾種）分析方法測(cè)定高純Y2O3中稀土雜質(zhì)元素質(zhì)量分?jǐn)?shù)
答案：
原子吸收光譜（AAS），或電感耦合等離子體發(fā)射光譜（ICP-AES），或X射線熒光光譜（XRF），或原子熒光光譜（AFS...
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【案例分析題】試為下述分析工作選擇你認(rèn)為恰當(dāng)?shù)模ㄒ环N或幾種）分析方法砂金中含金量的檢測(cè)
答案：
原子吸收光譜（AAS），或電感耦合等離子體發(fā)射光譜（ICP-AES），或X射線熒光光譜（XRF），或化學(xué)分析等。砂金是指...
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【案例分析題】試為下述分析工作選擇你認(rèn)為恰當(dāng)?shù)模ㄒ环N或幾種）分析方法黃金制品中含金量的無(wú)損檢測(cè)
答案：
制品大小合適，可用電子探針（EPMA），或帶波譜儀（或能譜儀）的掃描電鏡（SEM），或X射線熒光光譜（XRF）。無(wú)損檢測(cè)...
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【案例分析題】試為下述分析工作選擇你認(rèn)為恰當(dāng)?shù)模ㄒ环N或幾種）分析方法幾種高聚物組成之混合物的定性分析與定量分析
答案：
定性分析：紅外光譜（IR），或核磁共振譜（NMR），或用IR、NMR、紫外可見(jiàn)光譜（UV-VIS）、差熱分析（DTA）等...
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【案例分析題】試為下述分析工作選擇你認(rèn)為恰當(dāng)?shù)模ㄒ环N或幾種）分析方法推斷分子式為C8H10O的化合物之結(jié)構(gòu)
答案：
紅外光譜（IR）和紫外可見(jiàn)光譜（UV-VIS）。有機(jī)化合物的結(jié)構(gòu)分析，有的簡(jiǎn)單，有的復(fù)雜。一般情況下，綜合應(yīng)用紅外光譜（...
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【案例分析題】試為下述分析工作選擇你認(rèn)為恰當(dāng)?shù)模ㄒ环N或幾種）分析方法某薄膜(樣品)中極小彌散顆粒(直徑遠(yuǎn)小于1μm)的物相鑒定
答案：
一般應(yīng)用透射電鏡（TEM）中的選區(qū)電子衍射（SAED）就可以，但有時(shí)候還需要用裝有X射線波譜儀或X射線能譜儀的TEM才能...
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【案例分析題】試為下述分析工作選擇你認(rèn)為恰當(dāng)?shù)模ㄒ环N或幾種）分析方法
驗(yàn)證奧氏體（γ）轉(zhuǎn)變?yōu)轳R氏體（α）的取向關(guān)系（即西山關(guān)系）：
答案：
透射電鏡（TEM）中的選區(qū)電子衍射（SAED）。首先用TEM的成像功能找到相鄰的未轉(zhuǎn)變的奧氏體和已轉(zhuǎn)變的物相&mdash...
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【案例分析題】試為下述分析工作選擇你認(rèn)為恰當(dāng)?shù)模ㄒ环N或幾種）分析方法鎳-鉻合金鋼回火脆斷口晶界上微量元素銻的分布（偏聚）的研究
答案：
電子探針（EPMA），或帶波譜儀（或能譜儀）的掃描電鏡。首先用二次電子像觀察斷口形貌，用波譜儀（或能譜儀）定點(diǎn)分析晶粒和...
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【案例分析題】試為下述分析工作選擇你認(rèn)為恰當(dāng)?shù)模ㄒ环N或幾種）分析方法淬火鋼中孿晶馬氏體與位錯(cuò)馬氏體的形貌觀察
答案：
透射電鏡（TEM）。TEM的獨(dú)特功能：在觀察形貌的同時(shí)，進(jìn)行晶體結(jié)構(gòu)的原位分析。要觀察淬火鋼中孿晶馬氏體與位錯(cuò)馬氏體的形...
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【案例分析題】試為下述分析工作選擇你認(rèn)為恰當(dāng)?shù)模ㄒ环N或幾種）分析方法固體表面元素定性分析及定量分析
答案：
對(duì)于導(dǎo)體、半導(dǎo)體樣品：X射線光電子能譜（XPS），或俄歇電子能譜（AES），或二次離子質(zhì)譜（SIMS）。
對(duì)于絕...
對(duì)于絕...
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【案例分析題】試為下述分析工作選擇你認(rèn)為恰當(dāng)?shù)模ㄒ环N或幾種）分析方法某聚合物的價(jià)帶結(jié)構(gòu)分析
答案：
紫外光電子能譜（UPS），或X射線光電子能譜（XPS），最好是UPS。
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【案例分析題】試為下述分析工作選擇你認(rèn)為恰當(dāng)?shù)模ㄒ环N或幾種）分析方法某半導(dǎo)體的表面能帶結(jié)構(gòu)測(cè)定。
答案：
紫外光電子能譜（UPS），或X射線光電子能譜（XPS），或紫外可見(jiàn)吸收光譜（UV-VIS），最好是紫外光電子能譜（UPS...
