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【案例分析題】試為下述分析工作選擇你認為恰當?shù)模ㄒ环N或幾種)分析方法某半導體的表面能帶結構測定。
答案:
紫外光電子能譜(UPS),或X射線光電子能譜(XPS),或紫外可見吸收光譜(UV-VIS),最好是紫外光電子能譜(UPS...
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答案:
對于導體、半導體樣品:X射線光電子能譜(XPS),或俄歇電子能譜(AES),或二次離子質譜(SIMS)。
對于絕...
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