A.相平面法
B.相軌跡法
C.描述函數(shù)法
D.逆系統(tǒng)法
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A.開環(huán)零點(diǎn)
B.開環(huán)極點(diǎn)
C.閉環(huán)零點(diǎn)
D.閉環(huán)極點(diǎn)
A.虛軸上
B.實(shí)軸上
C.以共軛形式成對(duì)出現(xiàn)在復(fù)平面中
D.坐標(biāo)軸上
A.大小相等
B.大小不等
C.方向相同
D.方向相反
A.檢驗(yàn)法
B.頻率法
C.反饋法
D.根軌跡法
A.根軌跡是一種圖解方法
B.根軌跡避免了求解高階系統(tǒng)特征方程的困難
C.根軌跡可以直觀看出系統(tǒng)中某些參數(shù)的變化對(duì)控制系統(tǒng)閉環(huán)特征根分布影響的趨勢(shì)
D.根軌跡在工程上得到了廣泛的應(yīng)用
最新試題
首一多項(xiàng)式形式的傳遞函數(shù)對(duì)應(yīng)的增益稱為：（）
關(guān)于控制系統(tǒng)的數(shù)學(xué)模型，下列說法錯(cuò)誤的是：（）
用根軌跡法進(jìn)行系統(tǒng)校正，是將高階系統(tǒng)看作次阻尼二階系統(tǒng)進(jìn)行設(shè)計(jì)，所以，在校正裝置設(shè)計(jì)之后，需要進(jìn)行（），看被忽略掉的系統(tǒng)極點(diǎn)對(duì)系統(tǒng)動(dòng)態(tài)性能的影響。正因?yàn)榻惦A處理的粗略性，設(shè)計(jì)初確定主導(dǎo)極點(diǎn)位置時(shí)需要留出（）。
前饋校正一般不單獨(dú)使用，總是和其他校正方式結(jié)合起來構(gòu)成（）控制系統(tǒng)，以滿足某些性能要求較高的系統(tǒng)的需要。
對(duì)于典型二階系統(tǒng)，當(dāng)系統(tǒng)為欠阻尼時(shí)，其階躍響應(yīng)呈現(xiàn)（）。
二次振蕩環(huán)節(jié)中包含（）個(gè)獨(dú)立儲(chǔ)能元件。
在負(fù)反饋系統(tǒng)中，若開環(huán)傳遞函數(shù)增加了一個(gè)位于s左半平面的極點(diǎn)，則其根軌跡（）。
微分方程階數(shù)從傳遞函數(shù)中看不出來。（）
超前校正適用于改善系統(tǒng)的（），而滯后校正常用于改善系統(tǒng)的（）。如果系統(tǒng)的動(dòng)態(tài)和穩(wěn)態(tài)特性均較差時(shí)，通常需采用（）。
系統(tǒng)中引入相位超前校正裝置后，系統(tǒng)的（）。