問答題一塊電阻率為3Ω·cm的N-Si樣品,空穴的壽命為τp=5μs,在其平面型的表面處有穩(wěn)定的空穴注入,過甚空穴濃度為Δp(0)=1014cm-3,計算從這個表面擴散進入半導體內(nèi)部的空穴電流密度。在離表面多遠處過??昭舛人p到1012cm-3。

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