A、內(nèi)標(biāo)法
B、數(shù)學(xué)校正法
C、濾波
D、稀釋法
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你可能感興趣的試題
A、正比計(jì)數(shù)器
B、閃爍計(jì)數(shù)器
C、晶體計(jì)數(shù)器
D、硅（鋰）探測(cè)器
A、激發(fā)條件（Kv，mA.盡可能高
B、樣品室抽真空
C、使用脈沖高度選擇器
D、減小電流
A、較高的比較器水平可以縮短總的分析時(shí)間。
B、低的比較器水平包括了更多的試樣氣體，因此用于結(jié)果計(jì)算的氮和氧也多。
C、比較器水平設(shè)置過(guò)低，盡管包括的低濃度不顯著影響結(jié)果（噪聲），但會(huì)使分析延長(zhǎng)。
D、比較器水平越低越好。
A、Ｃ和Ｓi；
B、Ｍn和Ａs；
C、Ｐ和Ｓ
A、150mm、300mm、700mm；
B、150mm、400mm、700mm；
C、150mm、300mm、500mm；
D、150mm、300mm、500mm；
最新試題
ICP-AES分析中的化學(xué)干擾，比起火焰原子吸收光譜或火焰原子發(fā)射光譜分析要輕微得多，因此化學(xué)干擾在ICP發(fā)射光譜分析中可以常常忽略不計(jì)。
氧氮分析儀器長(zhǎng)期運(yùn)行和頻繁使用，儀器的各部件會(huì)發(fā)生老化和磨損，因此分析人員要定期檢查與維護(hù)儀器。
選用ICP-AES分析鎳鐵中砷時(shí)，使用標(biāo)準(zhǔn)加入法可以不進(jìn)行背景校正。
原子熒光中屏蔽氣的作用是阻止因外圍空氣進(jìn)入管中心而造成的熒光猝滅效應(yīng)。
ICP矩焰形成通稱點(diǎn)火，和火焰原子吸收法一樣，都是把工作氣體點(diǎn)燃，形成高溫的火焰。
原子熒光法做檢出限測(cè)試時(shí)應(yīng)對(duì)空白樣品連續(xù)測(cè)定7次。
紅外碳硫儀中的二氧化碳紅外池可以用于對(duì)二氧化硫的檢測(cè)。
X射線熒光光譜儀長(zhǎng)時(shí)間停用后，可以直接調(diào)整電壓和電流至工作電壓和電流。
原子吸收光度法，WM-2H型無(wú)油氣體壓縮機(jī)，表壓不在“0”為時(shí)，不得開(kāi)機(jī)。
在任何元素的熒光光譜中，共振熒光譜線是最靈敏的譜線。