X射線熒光光譜法玻璃熔片法測量爐渣時，可以使用純氧化物配比建立工作曲線。

ICP-AES分析中的化學干擾，比起火焰原子吸收光譜或火焰原子發(fā)射光譜分析要輕微得多，因此化學干擾在ICP發(fā)射光譜分析中可以常常忽略不計。

直讀光譜儀使用一段時間后需要清理廢氣過濾器，廢氣過濾器需放置一段時間后才能打開，以防自燃。

直讀光譜分析中，電極與試樣的距離對分析結果有影響。

選用ICP-AES分析鎳鐵中砷時，使用標準加入法可以不進行背景校正。

原子吸收光度法，WM-2H型無油氣體壓縮機，表壓不在“0”為時，不得開機。

從ICP-AES干擾原理出發(fā)，使用標準加入法可以有效地消除光譜干擾。

X射線熒光光譜分析中，含吸附水的樣品會影響抽真空的效果，導致分析延時。

紅外碳硫儀中的二氧化碳紅外池可以用于對二氧化硫的檢測。

紅外碳硫儀中的紅外檢測池具有單一性，各紅外池間不可互相代用。