A、正比計數(shù)器
B、閃爍計數(shù)器
C、晶體計數(shù)器
D、硅(鋰)探測器
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A、激發(fā)條件(Kv,mA.盡可能高
B、樣品室抽真空
C、使用脈沖高度選擇器
D、減小電流
A、較高的比較器水平可以縮短總的分析時間。
B、低的比較器水平包括了更多的試樣氣體,因此用于結(jié)果計算的氮和氧也多。
C、比較器水平設(shè)置過低,盡管包括的低濃度不顯著影響結(jié)果(噪聲),但會使分析延長。
D、比較器水平越低越好。
A、C和Si;
B、Mn和As;
C、P和S
A、150mm、300mm、700mm;
B、150mm、400mm、700mm;
C、150mm、300mm、500mm;
D、150mm、300mm、500mm;
A、5
B、8.5
C、24
最新試題
ICP-AES分析中的化學(xué)干擾,比起火焰原子吸收光譜或火焰原子發(fā)射光譜分析要輕微得多,因此化學(xué)干擾在ICP發(fā)射光譜分析中可以常常忽略不計。
原子吸收光譜法測定被測元素,為了保證數(shù)據(jù)能夠上傳,必須將樣品編號輸完整。
直讀光譜儀使用一段時間后需要清理廢氣過濾器,廢氣過濾器需放置一段時間后才能打開,以防自燃。
直讀光譜分析中檢查激發(fā)放電斑點,凝聚放電是好的,擴(kuò)散放電是不好的。
ICP矩焰形成通稱點火,和火焰原子吸收法一樣,都是把工作氣體點燃,形成高溫的火焰。
在任何元素的熒光光譜中,共振熒光譜線是最靈敏的譜線。
氧氮分析儀器長期運行和頻繁使用,儀器的各部件會發(fā)生老化和磨損,因此分析人員要定期檢查與維護(hù)儀器。
高頻感應(yīng)紅外線吸收法測定鐵合金中碳硫含量,批量分析時應(yīng)每測定一定數(shù)量樣品,插做一個標(biāo)準(zhǔn)樣品,檢查儀器的線性是否漂移。
選用ICP-AES分析鎳鐵中砷時,使用標(biāo)準(zhǔn)加入法可以不進(jìn)行背景校正。
X射線熒光光譜法玻璃熔片法測量爐渣時,可以使用純氧化物配比建立工作曲線。