A.雖然耦合損耗大，但有利于減小工件中噪聲
B.脈沖窄，探測靈敏度高
C.探頭與儀器匹配較好
D.以上都對
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A.使用高聲阻抗耦合劑
B.使用軟保護膜探頭
C.使用較低頻率和減少探頭耦合面尺寸
D.以上都可以
A.草狀回波增多
B.信噪比下降
C.底波次數(shù)減少
D.以上全部
A.耦合層厚度，超聲波在耦合介質(zhì)中的波長及耦合介質(zhì)聲阻抗
B.探頭接觸面介質(zhì)聲阻抗
C.工件被探測面材料聲阻抗
D.以上都對
A.缺陷回波
B.底波或參考回波的減弱或消失
C.接收探頭接收到的能量的減弱
D.AB都對
A.兩個缺陷當(dāng)量相同
B.材質(zhì)衰減大的鍛件中缺陷當(dāng)量小
C.材質(zhì)衰減小的鍛件中缺陷當(dāng)量小
D.以上都不對
最新試題
關(guān)于液浸法的優(yōu)點，說法錯誤的是（）。
當(dāng)縱波直探頭置于細長工件上時，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
調(diào)節(jié)時基線時，應(yīng)使（）同時對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時，需要進行傳輸修正。
（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯誤的是（）。
（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。