判斷題晶片越厚頻率越低。
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缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
題型:單項選擇題
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
題型:單項選擇題
利用底波計算法進行靈敏度校準時,適用的工件厚度為()。
題型:單項選擇題
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
題型:單項選擇題
靈敏度采用試塊調節(jié)法,下面說法錯誤的是()。
題型:單項選擇題
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
題型:單項選擇題
探頭延檢測面水平移動,超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為()。
題型:單項選擇題
當縱波直探頭置于細長工件上時,在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
題型:單項選擇題
儀器水平線性影響()。
題型:單項選擇題
底波計算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進行靈敏度校準。
題型:單項選擇題