A.Ø1、2、3、4、5
B.Ø2、3、4、6、8
C.Ø2、3、4、6
D.Ø2、4、6、8
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A.相互垂直
B.相互平行
C.相互交叉45°
D.以上都是
A.面積
B.截面
C.正方立體
D.以上都不是
A.>50mm
B.>30mm
C.>20mm
D.>10mm
A.底面回波高度
B.有缺陷處的底面回波高度
C.無(wú)缺陷處的底面回波高度
D.缺陷回波高度
A.缺陷回波高度
B.底面回波高度
C.有缺陷處的底面回波高度
D.以上都是
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最新試題
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。