A.>50mm
B.>30mm
C.>20mm
D.>10mm
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A.底面回波高度
B.有缺陷處的底面回波高度
C.無(wú)缺陷處的底面回波高度
D.缺陷回波高度
A.缺陷回波高度
B.底面回波高度
C.有缺陷處的底面回波高度
D.以上都是
A.平方面
B.方截面
C.正方體
D.以上都不是
A.≥30mm
B.≥25mm
C.≥20mm
D.≥15mm
A.JB3963-85
B.JB4730-2005
C.GB/T6402-91
D.以上都是
最新試題
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱(chēng)為缺陷的()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱(chēng)為()。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。