A.掃描電路
B.標(biāo)記電路
C.接收電路
D.同步電路
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.連續(xù)波顯示
B.A-掃描顯示
C.B-掃描顯示
D.C-掃描顯示
A.磁致伸縮原理
B.壓電的原理
C.波型轉(zhuǎn)換原理
D.以上都不是
A.使熒屏上不含底面反射信號(hào)
B.使平行于入射面的缺陷難于檢出
C.通常表明金屬中存在多孔信號(hào)
D.降低檢測(cè)的穿透力
A.近場(chǎng)效應(yīng)
B.衰減
C.檢測(cè)系統(tǒng)的回復(fù)時(shí)間
D.折射
A.確定缺陷的深度
B.評(píng)價(jià)表面缺陷
C.作為評(píng)價(jià)線型缺陷的標(biāo)準(zhǔn)
D.校正距離-幅度變化
最新試題
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
（）可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對(duì)缺陷進(jìn)行（）。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。