A.C1〈C2
B.C1〉C2
C.Z1〉Z2
D.Z1〈Z2
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A.垂直線于聲波的裂紋
B.任意取向的夾雜物
C.平行于表面的裂紋
D.一系列小缺陷
A.引起聲能擴(kuò)散
B.引起反射波束聚焦,焦點(diǎn)決定于缺陷的曲率
C.引起超聲波波長(zhǎng)改變
D.上述三種都不對(duì)
A.50mm的鋼
B.100mm的鋼
C.150mm的鋼
D.200mm的鋼
A.內(nèi)外表面
B.只在內(nèi)表面
C.只在外表面
D.從內(nèi)表面到壁厚1/2深度
A.探頭效率
B.聲耦合問(wèn)題
C.檢驗(yàn)裝置的脈沖重復(fù)頻率
D.陰極射線管熒光屏的余輝時(shí)間
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最新試題
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
儀器水平線性影響()。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。