A.引起聲能擴(kuò)散
B.引起反射波束聚焦,焦點(diǎn)決定于缺陷的曲率
C.引起超聲波波長(zhǎng)改變
D.上述三種都不對(duì)
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.50mm的鋼
B.100mm的鋼
C.150mm的鋼
D.200mm的鋼
A.內(nèi)外表面
B.只在內(nèi)表面
C.只在外表面
D.從內(nèi)表面到壁厚1/2深度
A.探頭效率
B.聲耦合問題
C.檢驗(yàn)裝置的脈沖重復(fù)頻率
D.陰極射線管熒光屏的余輝時(shí)間
A.波長(zhǎng)的一半
B.1個(gè)波長(zhǎng)
C.1/4波長(zhǎng)
D.若干波長(zhǎng)
A.在而平的缺陷與入射聲束取向不良
B.疏松
C.大晶粒
D.上述三種都可能引起這種情況
![](https://static.ppkao.com/ppmg/img/appqrcode.png)
最新試題
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。