在工作中超聲波檢測(cè)儀屏幕上可能會(huì)出現(xiàn)（）等信號(hào)波，需要仔細(xì)判別。

若評(píng)片燈亮度增為原來的兩倍，則底片透光度（It/I0）變?yōu)樵瓉淼模ǎ?/p>

一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線，穿過一個(gè)厚度為X的物質(zhì)，其強(qiáng)度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）

某超聲波探頭，壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm，則該探頭工作頻率為（）

光電效應(yīng)發(fā)生的機(jī)率隨什么變化（）

對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷，一般采用（）檢測(cè)。

以下試塊中，能用于測(cè)定縱波直探頭分辨力的是（）

超聲波探頭上標(biāo)稱的頻率是（）

射線照片上細(xì)節(jié)影像的可識(shí)別性主要決定于（）

二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝，以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（）