A.平面性缺陷波高與缺陷面積成正比 B.球形缺陷反射波高與缺陷直徑成正比 C.缺陷傾斜度變小,缺陷檢出率提高 D.夾雜類缺陷可能會(huì)因產(chǎn)生透射聲波而無法檢測(cè)到
A.K值減小 B.K值增大 C.對(duì)K值無影響,對(duì)前沿尺寸影響較大 D.對(duì)入射聲波頻率影響較大
A.未焊透 B.未融合 C.無缺陷 D.探頭雜波