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A.橫波端角反射法適于測(cè)量上表面開口缺陷
B.用串列式雙探頭法測(cè)量缺陷下端點(diǎn)時(shí)存在死區(qū)
C.用端點(diǎn)衍射法可以方便地精確測(cè)定缺陷自身高度
D.6dB法測(cè)量精度高，但操作困難

A.為了使主聲束垂直于缺陷，一般采用K2探頭
B.采用K1斜探頭
C.對(duì)上端點(diǎn)距表面距離小于5mm的缺陷，測(cè)量誤差小
D.采用點(diǎn)聚焦探頭可以提高測(cè)試精度