電子束與固體樣品作用時，會產(chǎn)生背散射電子。背反射電子的產(chǎn)額隨樣品（）的增加而增多。

（）需要試樣與參比物之間溫度始終保持相同。

熱分析技術中，試樣用量越多，熱效應大，內部傳熱慢，溫度梯度大，導致峰形擴大，峰頂溫度滯后，容易使相鄰峰重疊，降低分辨率。

掃描隧道顯微鏡能用于觀察導體、半導體和絕緣體材料的表面結構。

透射電鏡的成像操作和電子衍射操作是通過調節(jié)（）的位置來實現(xiàn)的。