利用電子探針的波譜儀，一個分光晶體能夠覆蓋的波長范圍有限的，因此一個分光晶體只能檢測一定原子序數范圍的元素。

在熱分析技術中，利用程序溫控裝置，可以升溫、降溫，但不能測定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。

粉末多晶樣品中，不同晶面指數的倒易點分布在（）半徑的倒易球上。

關于X射線衍射儀的測量動作，說法正確的是（）。

紅外光分為（）。

在電子探針面分析中，根據圖像上亮點的疏密和分布，可確定該元素在試樣中分布情況，亮區(qū)代表元素含量（）。

熱分析技術中，試樣用量越多，熱效應大，內部傳熱慢，溫度梯度大，導致峰形擴大，峰頂溫度滯后，容易使相鄰峰重疊，降低分辨率。

與光鏡呈像相比，掃描電鏡圖像立體感強，形態(tài)逼真，這是由于掃描電鏡的（）比光鏡大100-500倍。

掃描電鏡的背散射電子像中，圖像上亮區(qū)對應區(qū)域的原子序數（）暗區(qū)對應區(qū)域的原子序數。

在紅外光譜分析中，基本振動區(qū)是指（）。