（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。

缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。

（）是影響缺陷定量的因素。

在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。

（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。

超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。

當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。

實(shí)際檢測(cè)中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。

底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。

用橫波斜探頭檢測(cè)，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。